Atomic resolution structural and chemical analysis of nanomaterials by aberration corrected STEM
Congreso:
Journées Surfaces et Interfaces 2011
Tipo de participación:
Póster
Otros autores:
C. Magén, J. Orna, L. Morellon, P. A. Algarabel, J. M. de Teresa, N. Marcano, S. Sangiao, M. R. Ibarra, M. Varela, M. P. Oxley, S. J. Pennycook, and J. Gazquez
Año :
2011
Lugar:
Poitiers (Francia)
Publicación (cita):
C. Magén, J. Orna, L. Morellon, P. A. Algarabel, J. M. de Teresa, N. Marcano, S. Sangiao, M. R. Ibarra, M. Varela, M. P. Oxley, S. J. Pennycook, and J. Gazquez. Atomic resolution structural and chemical analysis of nanomaterials by aberration corrected STEM. En: Journées Surfaces et Interfaces 2011. Poitiers (Francia): , 2011