Determination of InAs/AlSb interfaces composition in multilayer systems using HRTEM and STEM-HAADF techniques
Congreso:
18th International Microscopy Conference (IMC´18), 7-12 September 2014, Prague (Czech Republic)
Tipo de participación:
Comunicación oral
Otros autores:
J. Nicolai, Ch. Gatel, B. Warot-Fonrose, R.Teissier, A.N. Baranov, C. Magen, A. Ponchet
Año :
2014
Lugar:
Prague, Czech Republic