Electron Energy Loss Spectroscopy for the analysis of AlN/GaN interfaces in MBE grown distributed Bragg Reflectors
Congreso:
17th European Molecular Beam Epitaxy Workshop (Euro-MBE 2013)
Tipo de participación:
Comunicación oral
Otros autores:
A. Eljarrat, L. López-Conesa, Ž. Gačevi, S. Fernández-Garrido, E. Calleja, C. Magén, S. Estradé, F. Peiró
Año :
2013
Lugar:
Levi, Finland
Publicación (cita):
A. Eljarrat, L. López-Conesa, Ž. Gačevi, S. Fernández-Garrido, E. Calleja, C. Magén, S. Estradé, F. Peiró. Electron Energy Loss Spectroscopy for the analysis of AlN/GaN interfaces in MBE grown distributed Bragg Reflectors. En: 17th European Molecular Beam Epitaxy Workshop (Euro-MBE 2013). Levi, Finland: , 2013