Testing Downside Risk Efficiency Under Market Distress

Investigador:

Olmo Badenas, José

Congreso:

Far Eastern and South Asian Meetings of the Econometric Society

Tipo de participación:

Comunicación oral

Otros autores:

Jesus Gonzalo y Jose Olmo

Año :

2008

Lugar:

Singapur

Publicación (cita):

Jesus Gonzalo y Jose Olmo. Testing Downside Risk Efficiency Under Market Distress. En: Far Eastern and South Asian Meetings of the Econometric Society. Singapur: , 2008