Atomic-scale imaging of a complex point defect: O-decorated Cu vacancies in YBa2Cu3O7-x
Congreso:
16th European Microscopy Congress (EMC´16), August 28-Sept. 2, 2016 Lyon (France)
Tipo de participación:
Comunicación oral
Otros autores:
J. Gazquez, R. Guzman, R. Mishra, E. Bartolomé, J. Salafranca, C. Magén, M. Varela, M. Coll, A. Palau, S. M. Valvidares, P. Gargiani, E. Pellegrin, J. Herrero-Martin, S. J. Pennycook, S.T. Pantelides, T. Puig, X. Obradors
Año :
2016
Lugar:
Lyon, France