Testing Downside Risk Efficiency Under Market Distress

Investigador: 
Olmo Badenas, José
Congreso: 
Far Eastern and South Asian Meetings of the Econometric Society
Tipo de participación: 
Comunicación oral
Otros autores: 
Jesus Gonzalo y Jose Olmo
Año : 
2008
Lugar: 
Singapur
Publicación (cita): 
Jesus Gonzalo y Jose Olmo. Testing Downside Risk Efficiency Under Market Distress. En: Far Eastern and South Asian Meetings of the Econometric Society. Singapur: , 2008